更新時間:2026-01-14
點擊次數:421
TDS 熱脫附氫含量分析儀的檢測原理核心是程序升溫脫附(Temperature-Programmed Desorption, TDS) 結合氫的定性定量檢測技術,通過分步實現 “氫脫附 - 傳輸 - 檢測 - 解析",既能測定樣品中總氫含量,還能區分不同結合狀態的氫(固溶氫、陷阱氫)。
固溶氫:溶解在金屬晶格中的自由氫原子,與基體結合能低;
陷阱氫:被金屬內部缺陷(晶界、位錯、析出相、空隙等)捕獲的氫原子,結合能較高,需更高溫度才能脫離陷阱。
不同類型陷阱的氫,脫附所需溫度存在明顯差異,這是 TDS 能分析氫陷阱類型的核心依據。
低溫段(通常<200℃):固溶氫脫附;
中高溫段(200℃~800℃甚至更高):不同類型陷阱氫先后脫附。
載氣模式下:高純載氣攜帶脫附的氫氣,以穩定流速進入檢測器,避免氫分子擴散損失,同時減少峰展寬,提升檢測分辨率。
熱導檢測器(TCD):基于氫氣與載氣(如 He)的熱導率差異工作。氫氣熱導率遠高于氦氣,當含氫載氣流經 TCD 的熱敏元件(如鎢絲)時,會改變熱敏元件的溫度和電阻值,電阻變化量與氫氣濃度呈線性關系,進而轉化為可采集的電信號。該方法穩定性好,適合常量氫分析。
圖譜中的峰位:對應不同類型氫的脫附溫度,峰位越高,代表氫與陷阱的結合能越強;
圖譜中的峰面積:與對應溫度區間脫附的氫含量成正比,通過與標準氣校準曲線對比,可計算出各部分氫的含量及樣品總氫含量。